传统的光学纳米技术需要精确的纳米结构制造、多光束干涉或复杂的后处理算法。近日，国防科技大学Liu Ken、Zhu Zhihong、湖南师范大学景辉、新加坡国立大学Qiu Chengwei报道了一种简化且可靠的方法，其可以实现低至2 nm分辨率的纳米计量，从而消除了干涉测量对任何参考信号的需求。
本文要点：
1) 作者将掺铒石英晶体吸收体插入一个长度为3厘米的法布里-珀罗腔中，然后通过将光学损耗与腔间耦合相匹配来诱导异常点。与无损方法相比，作者通过实验实现了86倍的位移响应增强。
2) 此外，作者从理论上论证了该方法可以实现450倍以上的增强。最后，作者还发现信噪比提高了五倍，从而证明了非厄米传感器具有比厄米传感器更高的性能。
Jipeng Xu et.al Single-cavity loss-enabled nanometrology Nature Nanotechnology 2024
DOI: 10.1038/s41565-024-01729-8
https://doi.org/10.1038/s41565-024-01729-8
