纳米材料的相工程（PEN）是一个新兴领域，旨在通过精确操纵纳米材料的晶相来调整其物理化学性质。为了有效地推进PEN，拥有精确表征纳米材料结构和成分的能力至关重要。透射电子显微镜（TEM）是一种多功能工具，它结合了互易空间衍射、真实空间成像和光谱技术，能够在时间、空间、动量甚至能量领域以优异的分辨率进行全面表征。阿卜杜拉国王科技大学韩宇和华南理工大学张辉发表了最新综述。

本文要点

（1）在这篇综述中，作者首先介绍了各种TEM相关技术背后的基本机制，以及它们各自的应用范围和局限性。随后，作者回顾了TEM在PEN研究中的代表性应用，包括在金属纳米结构、碳同素异形体、低维材料和纳米多孔材料等领域的应用。

（2）具体而言，作者强调了TEM在相位识别、成分和化学状态分析、相位演变的原位观测方面的功效，以及在处理电子束敏感材料时遇到的挑战。此外，作者还讨论了TEM成像过程中，特别是在扫描模式下，伪影的潜在产生现象，并提出了将其发生率降至最低的方法。

（3）最后，作者对该领域的现状和未来趋势提出了见解，讨论了包括四维扫描TEM、三维原子分辨率成像和电子显微镜自动化在内的新兴技术，同时强调了这些进步的重要性和可行性。

Guanxing Li, et al. Applications of Transmission Electron Microscopy in Phase Engineering of Nanomaterials. Chem. Rev.. 2023

DOI：10.1021/acs.chemrev.3c00364

https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.chemrev.3c00364