纳米材料相工程(PEN)是一个新兴的领域，旨在通过精确地操纵纳米材料的晶相来调整其物理化学性质。为了有效地推进PEN的发展，具有精确表征纳米材料的结构和组成的能力至关重要。透射电子显微镜是一种多功能工具，它结合了互易空间衍射、真实空间成像和光谱技术，允许在时间、空间、动量以及越来越多的能量领域以非凡的分辨率进行全面的表征。

在这篇综述中，华南理工大学Hui Zhang，阿卜杜拉国王科技大学Yu Han综述了各种瞬变电磁相关技术背后的基本机制，以及它们各自的应用范围和局限性。

文章要点

1）作者综述了透射电子显微镜在PEN研究中值得注意的应用，包括在金属纳米结构、碳同素异形体、低维材料和纳米孔材料等领域的应用。具体地说，强调了它在相识别、成分和化学状态分析、相演变的原位观察以及在处理束流敏感材料时遇到的挑战方面的有效性。

2）此外，还讨论了在瞬变电磁成像过程中可能产生的伪影，特别是在扫描模式下，并提出了将伪影的发生降至最低的方法。

3）最后，对这一领域的现状和未来趋势提出了见解，讨论了新出现的技术，包括四维扫描电子显微镜、三维原子分辨率成像和电子显微镜自动化，同时强调了这些进展的重要性和可行性。

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Guanxing Li, et al, Applications of Transmission Electron Microscopy in Phase Engineering of Nanomaterials, Chem. Rev., 2023

DOI: 10.1021/acs.chemrev.3c00364

https://doi.org/10.1021/acs.chemrev.3c00364